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Deterministische Lösung der Boltzmanngleichung für Bauteilzuverlässigkeitsanalysen

Deterministic Solution of the Boltzmann Equation for Device Reliability Investigations

Tibor Grasser (ORCID: 0000-0001-6536-2238)
  • Grant-DOI 10.55776/P23598
  • Förderprogramm Einzelprojekte
  • Status beendet
  • Projektbeginn 01.11.2011
  • Projektende 30.04.2016
  • Bewilligungssumme 300.300 €

Wissenschaftsdisziplinen

Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik (25%); Informatik (25%); Mathematik (25%); Physik, Astronomie (25%)

Keywords

    Spherical Harmonics Expansion, Boltzmann Equation, Device Reliability, Semiconductor Devices, Finite Volume Methods, Hot Carrier Degradation

Abstract Endbericht

Die Abmessungen von Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren verkleinern sich weiterhin mit jeder neuen Technologiegeneration. Da die Versorgungsspannung jedoch nicht mehr in gleichem Maße reduziert werden kann, ohne die zuverlässige Funktion zu beeinträchtigen, steigen die elektrischen Felder innerhalb des Bauteils. Als Konsequenz dessen können Ladungsträger hohe Energien erreichen, welche für das Aufbrechen atomarer Bindungen oder das Ionisieren neutral geladener Atome ausreichen. Um derartige Degradationseffekte zu untersuchen, ist die Ladungsträgerverteilungsfunktion von höchstem Interesse, da sie im Wesentlichen die Wahrscheinlichkeit der Störstellenerzeugung bestimmt. Wir planen innerhalb dieses Projekts effiziente und präzise Methoden zur Berechnung der Ladungsträgerverteilungsfunktion zu entwickeln, um die Leistung und die Zuverlässigkeit zukünftiger Halbleiterbauteile zu erhöhen. Bestehende Modelle für den Ladungsträgertransport in Halbleiterbauelementen erlauben nur eine ungenaue Berechnung der Ladungsträgerverteilungsfunktion in jedem Ortspunkt innerhalb des Bauteils. Um die nötige Genauigkeit zu erhalten, muss die siebendimensionale Boltzmanngleichung gelöst werden, was sich jedoch selbst auf modernen Rechnern als äußert schwierig erweist. Die verbreitetste Lösungsmethode ist die stochastische Monte Carlo Methode. Allerdings führt dieser stochastische Zugang zu enormen Rechenzeiten, wenn eine gute Auflösung der Verteilungsfunktion in Regionen geringer Aufenthaltswahrscheinlichkeiten gefragt ist. Da aber genau diese Regionen die Ladungsträger mit hohen Energien beschreiben, ist die Monte Carlo Methode für die Untersuchung der Degradierung von Bauelementen nicht zufriedenstellend. Alternativ kann die Boltzmanngleichung auch mit deterministischen Methoden gelöst werden. Innerhalb dieses Projekts fokussieren wir uns auf die deterministische Methode der Entwicklung in Kugelflächenfunktionen (SHE- Methode), welche auf mathematisch und physikalisch vernünftigen Annahmen fußt und bereits exzellente Resultate für ein- und zweidimensionale Bauteilsimulationen bei gleichzeitig wesentlich kürzeren Rechenzeiten als bei Monte Carlo Methoden geliefert hat. Ein limitierender Faktor dieser Methode ist jedoch ihr enormer Speicherbedarf. Wir planen moderne Diskretisierungstechniken für die SHE-Methode zu verwenden und weitere physikalische Details zu berücksichtigen, um ein tragfähiges Fundament für weitere Zuverlässigkeitsuntersuchungen bereitzustellen. Um die hohe Komplexität der Boltzmanngleichung, der numerischen Methoden sowie der physikalischen Effekte zu bewältigen, wird sowohl die Expertise des Instituts für Mikroelektronik als auch die des Instituts für Analysis und Scientific Computing benötigt und in diesem Projekt vereint.

Die stetig wachsenden Anforderungen an die Leistungsfähigkeit von Halbleiterbauelementen erfordern das Design schnellerer, kleinerer und energieeffizienter Bauteile. Die Annäherung an physikalische Grenzen bedingt somit ein zunehmend besseres Verständnis der zugrundeliegenden Prozesse. Ein solches Verständnis kann entweder durch teure und zeitaufwändige Versuche in Laboratorien erfolgen, oder durch Computersimulationen mit ungleich kürzerer Ablaufzeit und geringeren Kosten. Letztlich ist ein koordiniertes Vorgehen über beide Zugänge notwendig, um den Fortschritt sicherzustellen. Im Rahmen dieses Projekts sind neue Algorithmen zur numerischen Lösung der Boltzmanngleichung entwickelt und implementiert worden. Da üblicherweise eine direkte Lösung der Boltzmanngleichung für realistische Bauteilgeometrien auf einem Computer als zu schwierig angesehen wird, werden in Produktivumgebungen oft einfachere Modelle basierend auf Momenten der Boltzmanngleichung verwendet. Dennoch werden Lösungen der Boltzmanngleichung als Referenz im Rahmen der semiklassischen Halbleitersimulation angesehen, bei der Quanteneffekte zwar nicht ignoriert werden, aber lediglich eine untergeordnete Rolle spielen. Die Forschungsergebnisse dieses Projekts erlauben numerische Lösungen der Boltzmanngleichung zu einem Bruchteil der Kosten konventioneller Zugänge, insbesondere der weit verbreiteten Monte-Carlo-Methode. Diese numerischen Fortschritte wurden im Numerikmodul dieses Projekts erzielt. Im zweiten Teil des Projekts, dem Physikmodul, wurden bessere physikalische Modelle in Hinblick auf realistische Bauteilgeometrien entwickelt. Die Forschungsergebnisse im Numerikmodul ermöglichen detaillierte Simulationen komplizierter Bauteilgeometrien, wie etwa sogenannte Trigate-Transistoren. Derartige Bauelemente finden sich etwa in aktuellen Prozessoren wieder. Dazu entwickelten wir Diskretisierungsmethoden, die für allgemeine unstrukturierte Drahtgittermodelle in drei Raumdimensionen geeignet sind. Um den Speicherbedarf unter Kontrolle zu halten, wurden Adaptierungstechniken entwickelt, die ein und dieselbe Simulation mit wenigen Dutzend Gigabytes anstelle von Hunderten Gigabytes ermöglichen. Die Forschungsergebnisse des Physikmoduls ermöglicht die Berücksichtigung der Streuung von Ladungsträgern nicht nur am Kristallgitter, sondern auch an anderen Ladungsträgern. Des weiteren wurde ein Formalismus entwickelt, der die als wichtig angesehene Generation und Rekombination von Elektron-Lochpaaren im Rahmen der direkten Lösung der Boltzmanngleichung erstmalig berücksichtigt.

Forschungsstätte(n)
  • Technische Universität Wien - 70%
  • Technische Universität Wien - 30%
Nationale Projektbeteiligte
  • Ansgar Jüngel, Technische Universität Wien , assoziierte:r Forschungspartner:in

Research Output

  • 557 Zitationen
  • 57 Publikationen
Publikationen
  • 2016
    Titel The role of cold carriers and the multiple-carrier process of Si–H bond dissociation for hot-carrier degradation in n- and p-channel LDMOS devices
    DOI 10.1016/j.sse.2015.08.014
    Typ Journal Article
    Autor Sharma P
    Journal Solid-State Electronics
    Seiten 185-191
  • 2016
    Titel A Drift-Diffusion-Based Analytic Description of the Energy Distribution Function for Hot-Carrier Degradation in Decananometer nMOSFETs
    DOI 10.1109/essderc.2016.7599677
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sharma P
    Seiten 428-431
  • 2016
    Titel On the Effect of Interface Traps on the Carrier Distribution Function During Hot-Carrier Degradation
    DOI 10.1109/iirw.2016.7904911
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Tyaginov S
    Seiten 95-98
  • 2016
    Titel A review of recent advances in the spherical harmonics expansion method for semiconductor device simulation
    DOI 10.18154/rwth-2016-06489
    Typ Other
    Autor Jungemann C
    Link Publikation
  • 2016
    Titel Pipelined Iterative Solvers with Kernel Fusion for Graphics Processing Units
    DOI 10.1145/2907944
    Typ Journal Article
    Autor Rupp K
    Journal ACM Transactions on Mathematical Software (TOMS)
    Seiten 1-27
    Link Publikation
  • 2016
    Titel ViennaCL---Linear Algebra Library for Multi- and Many-Core Architectures
    DOI 10.1137/15m1026419
    Typ Journal Article
    Autor Rupp K
    Journal SIAM Journal on Scientific Computing
  • 2016
    Titel A review of recent advances in the spherical harmonics expansion method for semiconductor device simulation
    DOI 10.1007/s10825-016-0828-z
    Typ Journal Article
    Autor Rupp K
    Journal Journal of Computational Electronics
    Seiten 939-958
    Link Publikation
  • 2016
    Titel On the limits of applicability of drift-diffusion based hot carrier degradation modeling
    DOI 10.7567/jjap.55.04ed14
    Typ Journal Article
    Autor Jech M
    Journal Japanese Journal of Applied Physics
  • 2015
    Titel On the importance of electron–electron scattering for hot-carrier degradation
    DOI 10.7567/jjap.54.04dc18
    Typ Journal Article
    Autor Tyaginov S
    Journal Japanese Journal of Applied Physics
  • 2015
    Titel TCAD simulation of tunneling leakage current in CaF2/Si(111) MIS structures
    DOI 10.1016/j.cap.2014.10.015
    Typ Journal Article
    Autor Illarionov Y
    Journal Current Applied Physics
    Seiten 78-83
  • 2015
    Titel Understanding and Modeling the Temperature Behavior of Hot-Carrier Degradation in SiON nMOSFETs
    DOI 10.1109/led.2015.2503920
    Typ Journal Article
    Autor Tyaginov S
    Journal IEEE Electron Device Letters
    Seiten 84-87
  • 2015
    Titel ViennaMaterials – A dedicated material library for computational science and engineering
    DOI 10.1016/j.amc.2015.03.094
    Typ Journal Article
    Autor Weinbub J
    Journal Applied Mathematics and Computation
    Seiten 282-293
  • 2015
    Titel On the Temperature Behavior of Hot-Carrier Degradation
    DOI 10.1109/iirw.2015.7437088
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Tyaginov S
    Seiten 143-146
  • 2015
    Titel Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Devices: Different Approaches to the Solution of the Boltzmann Transport Equation
    DOI 10.1109/ted.2015.2421282
    Typ Journal Article
    Autor Sharma P
    Journal IEEE Transactions on Electron Devices
    Seiten 1811-1818
    Link Publikation
  • 2015
    Titel Modeling of Hot-Carrier Degradation in LDMOS Devices Using a Drift-Diffusion Based Approach
    DOI 10.1109/sispad.2015.7292258
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sharma P
    Seiten 60-63
  • 2015
    Titel Predictive and Efficient Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Devices
    DOI 10.1109/ispsd.2015.7123471
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sharma P
    Seiten 389-392
  • 2015
    Titel Mesh Healing for TCAD Simulations.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rudolf F
    Konferenz Abstracts International Conference on Large-Scale Scientific Computations (LSSC)
  • 2015
    Titel A Model for Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Transistors Based on the Exact Solution of the Boltzmann Transport Equation Versus the Drift-Diffusion Scheme
    DOI 10.1109/ulis.2015.7063763
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sharma P
    Seiten 21-24
  • 2015
    Titel Transformation invariant local element size specification
    DOI 10.1016/j.amc.2015.04.027
    Typ Journal Article
    Autor Rudolf F
    Journal Applied Mathematics and Computation
    Seiten 195-206
  • 2012
    Titel A Generic Multi-Dimensional Run-Time Data Structure for High-Performance Scientific Computing.
    Typ Journal Article
    Autor Selberherr S Et Al
    Journal Proceedings of the World Congress on Engineering (WCE)
  • 2012
    Titel Towards a Free Open Source Process and Device Simulation Framework
    DOI 10.1109/iwce.2012.6242867
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Weinbub J
    Seiten 1-4
  • 2012
    Titel Multi-Scale Modelling for Devices and Circuits.
    Typ Journal Article
    Autor Macucci M Et Al
    Journal E-Nano Newsletter, Special Issue April 2012
  • 2012
    Titel Inclusion of Carrier-Carrier-Scattering Into Arbitrary-Order Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Grasser T Et Al
    Konferenz Book of Abstracts of the 15th International Workshop on Computational Electronics (IWCE)
  • 2012
    Titel Facing the Multicore - Challenge II, Aspects of New Paradigms and Technologies in Parallel Computing
    DOI 10.1007/978-3-642-30397-5
    Typ Book
    Verlag Springer Nature
  • 2012
    Titel Bipolar Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Grasser T Et Al
    Konferenz Proceedings of the 17th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
  • 2012
    Titel Towards a Free Open Source Process and Device Simulation Framework.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Selberherr S Et Al
    Konferenz Book of Abstracts of the 15th International Workshop on Computational Electronics (IWCE)
  • 2012
    Titel A GPU-Accelerated Parallel Preconditioner for the Solution of the Boltzmann Transport Equation for Semiconductors
    DOI 10.1007/978-3-642-30397-5_13
    Typ Book Chapter
    Autor Rupp K
    Verlag Springer Nature
    Seiten 147-157
  • 2012
    Titel Modeling of Hot Carrier Degradation Using a Spherical Harmonics Expansion of the Bipolar Boltzmann Transport Equation
    DOI 10.1109/iedm.2012.6479138
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Bina M
    Seiten 30.5.1-30.5.4
  • 2012
    Titel Inclusion of Carrier-Carrier-Scattering Into Arbitrary-Order Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation
    DOI 10.1109/iwce.2012.6242856
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rupp K
    Seiten 1-4
  • 2012
    Titel Stable blow up dynamics for energy supercritical wave equations
    DOI 10.48550/arxiv.1207.7046
    Typ Preprint
    Autor Donninger R
  • 2012
    Titel Programming CUDA and OpenCL: A Case Study Using Modern C++ Libraries
    DOI 10.48550/arxiv.1212.6326
    Typ Preprint
    Autor Demidov D
  • 2013
    Titel Stable blow up dynamics for energy supercritical wave equations
    DOI 10.1090/s0002-9947-2013-06038-2
    Typ Journal Article
    Autor Donninger R
    Journal Transactions of the American Mathematical Society
    Seiten 2167-2189
    Link Publikation
  • 2013
    Titel A Discussion of Selected Vienna-Libraries for Computational Science.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rupp K
    Konferenz Proceedings of C++Now
  • 2013
    Titel ViennaMesh - a Highly Flexible Meshing Framework.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rudolf F
    Konferenz Abstracts 4th International Congress on Computational Engineering and Sciences
  • 2013
    Titel Essential Ingredients for Modeling of Hot-Carrier Degradation in Ultra-Scaled MOSFETs
    DOI 10.1109/iirw.2013.6804168
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Tyaginov S
    Seiten 98-101
  • 2013
    Titel A note on the GPU acceleration of eigenvalue computations
    DOI 10.1063/1.4825816
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rupp K
    Seiten 1536-1539
  • 2013
    Titel A Flexible Dynamic Data Structure for Scientific Computing
    DOI 10.1007/978-94-007-6190-2_43
    Typ Book Chapter
    Autor Weinbub J
    Verlag Springer Nature
    Seiten 565-577
  • 2014
    Titel Cell-Centered Finite Volume Schemes for Semiconductor Device Simulation
    DOI 10.1109/sispad.2014.6931639
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rupp K
    Seiten 365-368
  • 2014
    Titel Predictive Hot-Carrier Modeling of n-Channel MOSFETs
    DOI 10.1109/ted.2014.2340575
    Typ Journal Article
    Autor Bina M
    Journal IEEE Transactions on Electron Devices
    Seiten 3103-3110
    Link Publikation
  • 2014
    Titel A Predictive Physical Model for Hot-Carrier Degradation in Ultra-Scaled MOSFETs
    DOI 10.1109/sispad.2014.6931570
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Tyaginov S
    Seiten 89-92
  • 2014
    Titel Template-Based Mesh Generation for Semiconductor Devices
    DOI 10.1109/sispad.2014.6931602
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rudolf F
    Seiten 217-220
  • 2014
    Titel Physical Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Transistors
    DOI 10.1109/iirw.2014.7049511
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Wimmer Y
    Seiten 58-62
  • 2014
    Titel A Flexible Material Database for Computational Science and Engineering.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rudolf F Et Al
    Konferenz Proceedings of the 4th European Seminar on Computing
  • 2014
    Titel Mesh Generation Using Dynamic Sizing Functions.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rudolf F
    Konferenz Proceedings of the 4th European Seminar on Computing
  • 2013
    Titel Programming CUDA and OpenCL: A Case Study Using Modern C++ Libraries
    DOI 10.1137/120903683
    Typ Journal Article
    Autor Demidov D
    Journal SIAM Journal on Scientific Computing
    Link Publikation
  • 2015
    Titel Free Open Source Mesh Healing for TCAD Device Simulations
    DOI 10.1007/978-3-319-26520-9_32
    Typ Book Chapter
    Autor Rudolf F
    Verlag Springer Nature
    Seiten 293-300
  • 2015
    Titel Comparison of analytic distribution function models for hot-carrier degradation modeling in nLDMOSFETs
    DOI 10.1016/j.microrel.2015.06.021
    Typ Journal Article
    Autor Sharma P
    Journal Microelectronics Reliability
    Seiten 1427-1432
  • 2014
    Titel Performance portability study of linear algebra kernels in OpenCL
    DOI 10.1145/2664666.2664674
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rupp K
    Seiten 1-11
    Link Publikation
  • 2014
    Titel Highly flexible and reusable finite element simulations with ViennaX
    DOI 10.1016/j.cam.2013.12.013
    Typ Journal Article
    Autor Weinbub J
    Journal Journal of Computational and Applied Mathematics
    Seiten 484-495
    Link Publikation
  • 2014
    Titel Modeling of deep-submicron silicon-based MISFETs with calcium fluoride dielectric
    DOI 10.1007/s10825-014-0593-9
    Typ Journal Article
    Autor Tyaginov S
    Journal Journal of Computational Electronics
    Seiten 733-738
  • 2014
    Titel Performance Portability Study of Linear Algebra Kernels in OpenCL
    DOI 10.48550/arxiv.1409.0669
    Typ Preprint
    Autor Rupp K
  • 2014
    Titel Pipelined Iterative Solvers with Kernel Fusion for Graphics Processing Units
    DOI 10.48550/arxiv.1410.4054
    Typ Preprint
    Autor Rupp K
  • 2014
    Titel Automatic Finite Volume Discretizations Through Symbolic Computations.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Grasser T Et Al
    Konferenz Proceedings of the 4th European Seminar on Computing
  • 2014
    Titel The Spherical Harmonics Expansion Method for Assessing Hot Carrier Degradation
    DOI 10.1007/978-3-319-08994-2_6
    Typ Book Chapter
    Autor Bina M
    Verlag Springer Nature
    Seiten 197-220
  • 2014
    Titel Dominant Mechanisms of Hot-Carrier Degradation in Short-and Long-Channel Transistors
    DOI 10.1109/iirw.2014.7049512
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Tyaginov S
    Seiten 63-68
  • 2012
    Titel Recent Advances in the Spherical Harmonics Expansion of the Boltzmann Transport Equation.
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Jüngel A Et Al
    Konferenz Abstracts of Congresso Nationale Simai 2012
  • 2011
    Titel On the Feasibility of Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation for Three-Dimensional Device Geometries
    DOI 10.1109/iedm.2011.6131667
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Rupp K
    Seiten 34.1.1-34.1.4

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