Deterministische Lösung der Boltzmanngleichung für Bauteilzuverlässigkeitsanalysen
Deterministic Solution of the Boltzmann Equation for Device Reliability Investigations
Wissenschaftsdisziplinen
Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik (25%); Informatik (25%); Mathematik (25%); Physik, Astronomie (25%)
Keywords
-
Spherical Harmonics Expansion,
Boltzmann Equation,
Device Reliability,
Semiconductor Devices,
Finite Volume Methods,
Hot Carrier Degradation
Die Abmessungen von Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren verkleinern sich weiterhin mit jeder neuen Technologiegeneration. Da die Versorgungsspannung jedoch nicht mehr in gleichem Maße reduziert werden kann, ohne die zuverlässige Funktion zu beeinträchtigen, steigen die elektrischen Felder innerhalb des Bauteils. Als Konsequenz dessen können Ladungsträger hohe Energien erreichen, welche für das Aufbrechen atomarer Bindungen oder das Ionisieren neutral geladener Atome ausreichen. Um derartige Degradationseffekte zu untersuchen, ist die Ladungsträgerverteilungsfunktion von höchstem Interesse, da sie im Wesentlichen die Wahrscheinlichkeit der Störstellenerzeugung bestimmt. Wir planen innerhalb dieses Projekts effiziente und präzise Methoden zur Berechnung der Ladungsträgerverteilungsfunktion zu entwickeln, um die Leistung und die Zuverlässigkeit zukünftiger Halbleiterbauteile zu erhöhen. Bestehende Modelle für den Ladungsträgertransport in Halbleiterbauelementen erlauben nur eine ungenaue Berechnung der Ladungsträgerverteilungsfunktion in jedem Ortspunkt innerhalb des Bauteils. Um die nötige Genauigkeit zu erhalten, muss die siebendimensionale Boltzmanngleichung gelöst werden, was sich jedoch selbst auf modernen Rechnern als äußert schwierig erweist. Die verbreitetste Lösungsmethode ist die stochastische Monte Carlo Methode. Allerdings führt dieser stochastische Zugang zu enormen Rechenzeiten, wenn eine gute Auflösung der Verteilungsfunktion in Regionen geringer Aufenthaltswahrscheinlichkeiten gefragt ist. Da aber genau diese Regionen die Ladungsträger mit hohen Energien beschreiben, ist die Monte Carlo Methode für die Untersuchung der Degradierung von Bauelementen nicht zufriedenstellend. Alternativ kann die Boltzmanngleichung auch mit deterministischen Methoden gelöst werden. Innerhalb dieses Projekts fokussieren wir uns auf die deterministische Methode der Entwicklung in Kugelflächenfunktionen (SHE- Methode), welche auf mathematisch und physikalisch vernünftigen Annahmen fußt und bereits exzellente Resultate für ein- und zweidimensionale Bauteilsimulationen bei gleichzeitig wesentlich kürzeren Rechenzeiten als bei Monte Carlo Methoden geliefert hat. Ein limitierender Faktor dieser Methode ist jedoch ihr enormer Speicherbedarf. Wir planen moderne Diskretisierungstechniken für die SHE-Methode zu verwenden und weitere physikalische Details zu berücksichtigen, um ein tragfähiges Fundament für weitere Zuverlässigkeitsuntersuchungen bereitzustellen. Um die hohe Komplexität der Boltzmanngleichung, der numerischen Methoden sowie der physikalischen Effekte zu bewältigen, wird sowohl die Expertise des Instituts für Mikroelektronik als auch die des Instituts für Analysis und Scientific Computing benötigt und in diesem Projekt vereint.
Die stetig wachsenden Anforderungen an die Leistungsfähigkeit von Halbleiterbauelementen erfordern das Design schnellerer, kleinerer und energieeffizienter Bauteile. Die Annäherung an physikalische Grenzen bedingt somit ein zunehmend besseres Verständnis der zugrundeliegenden Prozesse. Ein solches Verständnis kann entweder durch teure und zeitaufwändige Versuche in Laboratorien erfolgen, oder durch Computersimulationen mit ungleich kürzerer Ablaufzeit und geringeren Kosten. Letztlich ist ein koordiniertes Vorgehen über beide Zugänge notwendig, um den Fortschritt sicherzustellen. Im Rahmen dieses Projekts sind neue Algorithmen zur numerischen Lösung der Boltzmanngleichung entwickelt und implementiert worden. Da üblicherweise eine direkte Lösung der Boltzmanngleichung für realistische Bauteilgeometrien auf einem Computer als zu schwierig angesehen wird, werden in Produktivumgebungen oft einfachere Modelle basierend auf Momenten der Boltzmanngleichung verwendet. Dennoch werden Lösungen der Boltzmanngleichung als Referenz im Rahmen der semiklassischen Halbleitersimulation angesehen, bei der Quanteneffekte zwar nicht ignoriert werden, aber lediglich eine untergeordnete Rolle spielen. Die Forschungsergebnisse dieses Projekts erlauben numerische Lösungen der Boltzmanngleichung zu einem Bruchteil der Kosten konventioneller Zugänge, insbesondere der weit verbreiteten Monte-Carlo-Methode. Diese numerischen Fortschritte wurden im Numerikmodul dieses Projekts erzielt. Im zweiten Teil des Projekts, dem Physikmodul, wurden bessere physikalische Modelle in Hinblick auf realistische Bauteilgeometrien entwickelt. Die Forschungsergebnisse im Numerikmodul ermöglichen detaillierte Simulationen komplizierter Bauteilgeometrien, wie etwa sogenannte Trigate-Transistoren. Derartige Bauelemente finden sich etwa in aktuellen Prozessoren wieder. Dazu entwickelten wir Diskretisierungsmethoden, die für allgemeine unstrukturierte Drahtgittermodelle in drei Raumdimensionen geeignet sind. Um den Speicherbedarf unter Kontrolle zu halten, wurden Adaptierungstechniken entwickelt, die ein und dieselbe Simulation mit wenigen Dutzend Gigabytes anstelle von Hunderten Gigabytes ermöglichen. Die Forschungsergebnisse des Physikmoduls ermöglicht die Berücksichtigung der Streuung von Ladungsträgern nicht nur am Kristallgitter, sondern auch an anderen Ladungsträgern. Des weiteren wurde ein Formalismus entwickelt, der die als wichtig angesehene Generation und Rekombination von Elektron-Lochpaaren im Rahmen der direkten Lösung der Boltzmanngleichung erstmalig berücksichtigt.
- Ansgar Jüngel, Technische Universität Wien , assoziierte:r Forschungspartner:in
Research Output
- 557 Zitationen
- 57 Publikationen
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2016
Titel The role of cold carriers and the multiple-carrier process of Si–H bond dissociation for hot-carrier degradation in n- and p-channel LDMOS devices DOI 10.1016/j.sse.2015.08.014 Typ Journal Article Autor Sharma P Journal Solid-State Electronics Seiten 185-191 -
2016
Titel A Drift-Diffusion-Based Analytic Description of the Energy Distribution Function for Hot-Carrier Degradation in Decananometer nMOSFETs DOI 10.1109/essderc.2016.7599677 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sharma P Seiten 428-431 -
2016
Titel On the Effect of Interface Traps on the Carrier Distribution Function During Hot-Carrier Degradation DOI 10.1109/iirw.2016.7904911 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Tyaginov S Seiten 95-98 -
2016
Titel A review of recent advances in the spherical harmonics expansion method for semiconductor device simulation DOI 10.18154/rwth-2016-06489 Typ Other Autor Jungemann C Link Publikation -
2016
Titel Pipelined Iterative Solvers with Kernel Fusion for Graphics Processing Units DOI 10.1145/2907944 Typ Journal Article Autor Rupp K Journal ACM Transactions on Mathematical Software (TOMS) Seiten 1-27 Link Publikation -
2016
Titel ViennaCL---Linear Algebra Library for Multi- and Many-Core Architectures DOI 10.1137/15m1026419 Typ Journal Article Autor Rupp K Journal SIAM Journal on Scientific Computing -
2016
Titel A review of recent advances in the spherical harmonics expansion method for semiconductor device simulation DOI 10.1007/s10825-016-0828-z Typ Journal Article Autor Rupp K Journal Journal of Computational Electronics Seiten 939-958 Link Publikation -
2016
Titel On the limits of applicability of drift-diffusion based hot carrier degradation modeling DOI 10.7567/jjap.55.04ed14 Typ Journal Article Autor Jech M Journal Japanese Journal of Applied Physics -
2015
Titel On the importance of electron–electron scattering for hot-carrier degradation DOI 10.7567/jjap.54.04dc18 Typ Journal Article Autor Tyaginov S Journal Japanese Journal of Applied Physics -
2015
Titel TCAD simulation of tunneling leakage current in CaF2/Si(111) MIS structures DOI 10.1016/j.cap.2014.10.015 Typ Journal Article Autor Illarionov Y Journal Current Applied Physics Seiten 78-83 -
2015
Titel Understanding and Modeling the Temperature Behavior of Hot-Carrier Degradation in SiON nMOSFETs DOI 10.1109/led.2015.2503920 Typ Journal Article Autor Tyaginov S Journal IEEE Electron Device Letters Seiten 84-87 -
2015
Titel ViennaMaterials – A dedicated material library for computational science and engineering DOI 10.1016/j.amc.2015.03.094 Typ Journal Article Autor Weinbub J Journal Applied Mathematics and Computation Seiten 282-293 -
2015
Titel On the Temperature Behavior of Hot-Carrier Degradation DOI 10.1109/iirw.2015.7437088 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Tyaginov S Seiten 143-146 -
2015
Titel Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Devices: Different Approaches to the Solution of the Boltzmann Transport Equation DOI 10.1109/ted.2015.2421282 Typ Journal Article Autor Sharma P Journal IEEE Transactions on Electron Devices Seiten 1811-1818 Link Publikation -
2015
Titel Modeling of Hot-Carrier Degradation in LDMOS Devices Using a Drift-Diffusion Based Approach DOI 10.1109/sispad.2015.7292258 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sharma P Seiten 60-63 -
2015
Titel Predictive and Efficient Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Devices DOI 10.1109/ispsd.2015.7123471 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sharma P Seiten 389-392 -
2015
Titel Mesh Healing for TCAD Simulations. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rudolf F Konferenz Abstracts International Conference on Large-Scale Scientific Computations (LSSC) -
2015
Titel A Model for Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Transistors Based on the Exact Solution of the Boltzmann Transport Equation Versus the Drift-Diffusion Scheme DOI 10.1109/ulis.2015.7063763 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sharma P Seiten 21-24 -
2015
Titel Transformation invariant local element size specification DOI 10.1016/j.amc.2015.04.027 Typ Journal Article Autor Rudolf F Journal Applied Mathematics and Computation Seiten 195-206 -
2012
Titel A Generic Multi-Dimensional Run-Time Data Structure for High-Performance Scientific Computing. Typ Journal Article Autor Selberherr S Et Al Journal Proceedings of the World Congress on Engineering (WCE) -
2012
Titel Towards a Free Open Source Process and Device Simulation Framework DOI 10.1109/iwce.2012.6242867 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Weinbub J Seiten 1-4 -
2012
Titel Multi-Scale Modelling for Devices and Circuits. Typ Journal Article Autor Macucci M Et Al Journal E-Nano Newsletter, Special Issue April 2012 -
2012
Titel Inclusion of Carrier-Carrier-Scattering Into Arbitrary-Order Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Grasser T Et Al Konferenz Book of Abstracts of the 15th International Workshop on Computational Electronics (IWCE) -
2012
Titel Facing the Multicore - Challenge II, Aspects of New Paradigms and Technologies in Parallel Computing DOI 10.1007/978-3-642-30397-5 Typ Book Verlag Springer Nature -
2012
Titel Bipolar Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Grasser T Et Al Konferenz Proceedings of the 17th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) -
2012
Titel Towards a Free Open Source Process and Device Simulation Framework. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Selberherr S Et Al Konferenz Book of Abstracts of the 15th International Workshop on Computational Electronics (IWCE) -
2012
Titel A GPU-Accelerated Parallel Preconditioner for the Solution of the Boltzmann Transport Equation for Semiconductors DOI 10.1007/978-3-642-30397-5_13 Typ Book Chapter Autor Rupp K Verlag Springer Nature Seiten 147-157 -
2012
Titel Modeling of Hot Carrier Degradation Using a Spherical Harmonics Expansion of the Bipolar Boltzmann Transport Equation DOI 10.1109/iedm.2012.6479138 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Bina M Seiten 30.5.1-30.5.4 -
2012
Titel Inclusion of Carrier-Carrier-Scattering Into Arbitrary-Order Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation DOI 10.1109/iwce.2012.6242856 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rupp K Seiten 1-4 -
2012
Titel Stable blow up dynamics for energy supercritical wave equations DOI 10.48550/arxiv.1207.7046 Typ Preprint Autor Donninger R -
2012
Titel Programming CUDA and OpenCL: A Case Study Using Modern C++ Libraries DOI 10.48550/arxiv.1212.6326 Typ Preprint Autor Demidov D -
2013
Titel Stable blow up dynamics for energy supercritical wave equations DOI 10.1090/s0002-9947-2013-06038-2 Typ Journal Article Autor Donninger R Journal Transactions of the American Mathematical Society Seiten 2167-2189 Link Publikation -
2013
Titel A Discussion of Selected Vienna-Libraries for Computational Science. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rupp K Konferenz Proceedings of C++Now -
2013
Titel ViennaMesh - a Highly Flexible Meshing Framework. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rudolf F Konferenz Abstracts 4th International Congress on Computational Engineering and Sciences -
2013
Titel Essential Ingredients for Modeling of Hot-Carrier Degradation in Ultra-Scaled MOSFETs DOI 10.1109/iirw.2013.6804168 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Tyaginov S Seiten 98-101 -
2013
Titel A note on the GPU acceleration of eigenvalue computations DOI 10.1063/1.4825816 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rupp K Seiten 1536-1539 -
2013
Titel A Flexible Dynamic Data Structure for Scientific Computing DOI 10.1007/978-94-007-6190-2_43 Typ Book Chapter Autor Weinbub J Verlag Springer Nature Seiten 565-577 -
2014
Titel Cell-Centered Finite Volume Schemes for Semiconductor Device Simulation DOI 10.1109/sispad.2014.6931639 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rupp K Seiten 365-368 -
2014
Titel Predictive Hot-Carrier Modeling of n-Channel MOSFETs DOI 10.1109/ted.2014.2340575 Typ Journal Article Autor Bina M Journal IEEE Transactions on Electron Devices Seiten 3103-3110 Link Publikation -
2014
Titel A Predictive Physical Model for Hot-Carrier Degradation in Ultra-Scaled MOSFETs DOI 10.1109/sispad.2014.6931570 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Tyaginov S Seiten 89-92 -
2014
Titel Template-Based Mesh Generation for Semiconductor Devices DOI 10.1109/sispad.2014.6931602 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rudolf F Seiten 217-220 -
2014
Titel Physical Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Transistors DOI 10.1109/iirw.2014.7049511 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Wimmer Y Seiten 58-62 -
2014
Titel A Flexible Material Database for Computational Science and Engineering. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rudolf F Et Al Konferenz Proceedings of the 4th European Seminar on Computing -
2014
Titel Mesh Generation Using Dynamic Sizing Functions. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rudolf F Konferenz Proceedings of the 4th European Seminar on Computing -
2013
Titel Programming CUDA and OpenCL: A Case Study Using Modern C++ Libraries DOI 10.1137/120903683 Typ Journal Article Autor Demidov D Journal SIAM Journal on Scientific Computing Link Publikation -
2015
Titel Free Open Source Mesh Healing for TCAD Device Simulations DOI 10.1007/978-3-319-26520-9_32 Typ Book Chapter Autor Rudolf F Verlag Springer Nature Seiten 293-300 -
2015
Titel Comparison of analytic distribution function models for hot-carrier degradation modeling in nLDMOSFETs DOI 10.1016/j.microrel.2015.06.021 Typ Journal Article Autor Sharma P Journal Microelectronics Reliability Seiten 1427-1432 -
2014
Titel Performance portability study of linear algebra kernels in OpenCL DOI 10.1145/2664666.2664674 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rupp K Seiten 1-11 Link Publikation -
2014
Titel Highly flexible and reusable finite element simulations with ViennaX DOI 10.1016/j.cam.2013.12.013 Typ Journal Article Autor Weinbub J Journal Journal of Computational and Applied Mathematics Seiten 484-495 Link Publikation -
2014
Titel Modeling of deep-submicron silicon-based MISFETs with calcium fluoride dielectric DOI 10.1007/s10825-014-0593-9 Typ Journal Article Autor Tyaginov S Journal Journal of Computational Electronics Seiten 733-738 -
2014
Titel Performance Portability Study of Linear Algebra Kernels in OpenCL DOI 10.48550/arxiv.1409.0669 Typ Preprint Autor Rupp K -
2014
Titel Pipelined Iterative Solvers with Kernel Fusion for Graphics Processing Units DOI 10.48550/arxiv.1410.4054 Typ Preprint Autor Rupp K -
2014
Titel Automatic Finite Volume Discretizations Through Symbolic Computations. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Grasser T Et Al Konferenz Proceedings of the 4th European Seminar on Computing -
2014
Titel The Spherical Harmonics Expansion Method for Assessing Hot Carrier Degradation DOI 10.1007/978-3-319-08994-2_6 Typ Book Chapter Autor Bina M Verlag Springer Nature Seiten 197-220 -
2014
Titel Dominant Mechanisms of Hot-Carrier Degradation in Short-and Long-Channel Transistors DOI 10.1109/iirw.2014.7049512 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Tyaginov S Seiten 63-68 -
2012
Titel Recent Advances in the Spherical Harmonics Expansion of the Boltzmann Transport Equation. Typ Conference Proceeding Abstract Autor Jüngel A Et Al Konferenz Abstracts of Congresso Nationale Simai 2012 -
2011
Titel On the Feasibility of Spherical Harmonics Expansions of the Boltzmann Transport Equation for Three-Dimensional Device Geometries DOI 10.1109/iedm.2011.6131667 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Rupp K Seiten 34.1.1-34.1.4